负责人 叶工 18312001181 化验部：0755- 29362759 　　　　样品要求 1、金属样品如块状、板状、圆拄状要求磨成一个平面，面积不小于10X10毫米，如果面积太小可以用几块粘贴一起。 　 2、对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常。因此要求测试时合 理选择响应的方向平面。 3、对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求样品不能简单粗磨，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。 　 4、粉末样品要求磨成320目的粒度，约40微米。粒度粗大衍射强度底，峰形不好，分辨率低。要了解样品的物理化学性质，如是否易燃，易潮解，易腐蚀、有毒、易挥发。 　　 5、粉末样品要求在3克左右，如果太少也需5毫克。 　　 6、样品可以是金属、非金属、有机、无机材料粉末。

负责人 叶工 18312001181 化验部：0755- 29362759 　　　目前，物相分析存在的问题主要有：⑴ 待测物图样中的最强线条可能并非某单一相的最强线，而是两个或两个以上相的某些次强或三强线叠加的结果。这时若以该线作为某相的最强线将找不到任何对应的卡片。⑵ 在众多卡片中找出满足条件的卡片，十分复杂而繁锁。虽然可以利用计算机辅助检索，但仍难以令人满意。⑶ 定量分析过程中，配制试样、绘制定标曲线或者Ｋ值测定及计算，都是复杂而艰巨的工作。为此，有人提出了可能的解决办法，认为 从相反的角度出发，根据标准数据（PDF卡片）利用计算机对定性分析的初步结果进行多相拟合显示，绘出衍射角与衍射强度的模拟衍射曲线。通过调整每一物相所占的比例，与衍射仪扫描所得的衍射图谱相比较，就可以更准确地得到定性和定量分析的结果，从而免去了一些定性分析和整个定量分析的实验和计算过程。

负责人 叶工 18312001181 化验部：0755- 29362759 　　点阵常数的精确测定　　 　　点阵常数是晶体物质的基本结构参数，测定点阵常数在研究固态相变、确定固溶体类型、测定固溶体溶解度曲线、测定热膨胀系数等方面都得到了应用。点阵常数的测定是通过X射线衍射线的位置（θ ）的测定而获得的，通过测定衍射花样中每一条衍射线的位置均可得出一个点阵常数值。 　 点阵常数测定中的精确度涉及两个独立的问题，即波长的精度和布拉格角的测量精度。波长的问题主要是X射线谱学家的责任，衍射工作者的任务是要在波长分布与衍射线分布之间建立一一对应的关系。知道每根反射线的密勒指数后就可以根据不同的晶系用相应的公式计算点阵常数。晶面间距测量的精度随θ 角的增加而增加， θ越大得到的点阵常数值越精确，因而点阵常数测定时应选用高角度衍射线。误差一般采用图解外推法和最小二乘法来消除，点阵常数测定的精确度极限处在1×10-5附近。

负责人 叶工 18312001181 化验部：0755- 29362759 　　应力的测定 　　X射线测定应力以衍射花样特征的变化作为应变的量度。宏观应力均匀分布在物体中较大范围内，产生的均匀应变表现为该范围内方向相同的各晶粒中同名晶面间距变化相同，导致衍射线向某方向位移，这就是X射线测量宏观应力的基础；微观应力在各晶粒间甚至一个晶粒内各部分间彼此不同，产生的不均匀应变表现为某些区域晶面间距增加、某些区域晶面间距减少，结果使衍射线向不同方向位移，使其衍射线漫散宽化，这是X射线测量微观应力的基础。超微观应力在应变区内使原子偏离平衡位置，导致衍射线强度减弱，故可以通过X射线强度的变化测定超微观应力。测定应力一般用衍射仪法。 　 X射线测定应力具有非破坏性，可测小范围局部应力，可测表层应力，可区别应力类型、测量时无需使材料处于无应力状态等优点，但其测量精确度受组织结构的影响较大，X射线也难以测定动态瞬时应力。

晶粒尺寸和点阵畸变的测定负责人 叶工 18312001181 化验部：0755- 29362759 　　若多晶材料的晶粒无畸变、足够大，理论上其粉末衍射花样的谱线应特别锋利，但在实际实验中，这种谱线无法看到。这是因为仪器因素和物理因素等的综合影响，使纯衍射谱线增宽了。纯谱线的形状和宽度由试样的平均晶粒尺寸、尺寸分布以及晶体点阵中的主要缺陷决定，故对线形作适当分析，原则上可以得到上述影响因素的性质和尺度等方面的信息。 　　在晶粒尺寸和点阵畸变测定过程中，需要做的工作有两个：⑴ 从实验线形中得出纯衍射线形，最普遍的方法是傅里叶变换法和重复连续卷积法。⑵ 从衍射花样适当的谱线中得出晶粒尺寸和缺陷的信息。这个步骤主要是找出各种使谱线变宽的因素，并且分离这些因素对宽度的影响，从而计算出所需要的结果。主要方法有傅里叶法、线形方差法和积分宽度法。

发展方向负责人 叶工 18312001181 化验部：0755- 29362759 　单晶取向的测定就是找出晶体样品中晶体学取向与样品外坐标系的位向关系。虽然可以用光学方法等物理方法确定单晶取向，但X衍射法不仅可以精确地单晶定向，同时还能得到晶体内部微观结构的信息。一般用劳埃法单晶定向，其根据是底片上劳埃斑点转换的极射赤面投影与样品外坐标轴的极射赤面投影之间的位置关系。透射劳埃法只适用于厚度小且吸收系数小的样品；背射劳埃法就无需特别制备样品，样品厚度大小等也不受限制，因而多用此方法 。 　 多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的现象称为织构，常见的织构有丝织构和板织构两种类型。为反映织构的概貌和确定织构指数，有三种方法描述织构：极图、反极图和三维取向函数，这三种方法适用于不同的情况。对于丝织构，要知道其极图形式，只要求出求其丝轴指数即可，照相法和衍射仪法是可用的方法。板织构的极点分布比较复杂，需要两个指数来表示，且多用衍射仪进行测定。 发展方向负责人 叶工 18312001181 化验部：0755- 29362759

发展方向负责人 叶工 18312001181 化验部：0755- 29362759 　　X射线分析的新发展，金属X射线分析由于设备和技术的普及已逐步变成金属研究和材料测试的常规方法。早期多用照相法，这种方法费时较长，强度测量的精确度低。50年代初问世的计数器衍射仪法具有快速、强度测量准确，并可配备计算机控制等优点，已经得到广泛的应用。但使用单色器的照相法在微量样品和探索未知新相的分析中仍有自己的特色。从70年代以来，随着高强度X射线源（包括超高强度的旋转阳极X射线发生器、电子同步加速辐射,高压脉冲X射线源）和高灵敏度探测器的出现以及电子计算机分析的应用，使金属 X射线学获得新的推动力。这些新技术的结合，不仅大大加快分析速度，提高精度，而且可以进行瞬时的动态观察以及对更为微弱或精细效应的研究。 本实验室可以提供多种方式的X射线分析服务，XRD或XRF(X射线衍射分析或X射线荧光分析)。一般要求为粉末状，也可以是块状、板状、片状或丝状、带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状。

我中心化学实验室，技术力量雄厚，拥有高水平的检测队伍、先进的仪器设备和完善的管理体系，致力于成为中国最优秀的建筑材料化学分析实验室。多年来，化学实验室坚持以最佳的品质服务于建筑工程领域和冶金行业，为多项国家重点工程、2008奥运场馆建设项目、科研机构及知名企业提供检测服务，在行业内享有盛誉。 化学实验室主要承接各种金属材料、非金属材料、无机非金属矿及其制品等材料化学成分分析以及室内装饰材料等有害成分检测。>> 更多内容负责人 叶工 18312001181 化验部：0755- 29362759

钢铁及合金制品、焊丝、焊条、不锈钢、铁合金、铝合金、铁矿石等材料的元素成分检测。 检测项目： C、Si、MH、P、S、Hi、Cr、Mo、Cu、Al、V、Ti、Hb、Mg、ZH、Zr、W等元素及钢铁产品镀锌层重量检测等。 >> 更多内容负责人 叶工 18312001181 化验部：0755- 29362759

>> 更多内容负责人 叶工 18312001181 化验部：0755- 29362759 ◇ 金属材料化学分析 ◇ 贵金属及其化合物分析 ◇ 氧化物及化合物分析 ◇ 有色金属化学分析 ◇ 金属元素分析 ◇ 合金材料化学分析 对于岩石矿物样品，我中心可根据客户的不同需求，提供以下测试服务： 1、物相分析：对金属矿物样品进行成分组成鉴定，物相定性、定量分析。 2、化学分析：委托方需指定分析项目，实验室依据相关国标进行元素或氧化物分析。 3、元素分析：初步鉴定样品中常规元素（大约20~30个）的含量。测定低限：0.001%。 4、元素分析：初步鉴定样品中常规元素（大约10个）的含量。测定低限：0.01%。

铁矿石化学分析项目： 负责人 叶工 18312001181 化验部：0755- 29362759 华瑞测提供1、水份 2、全铁 3、金属铁 4、亚铁 5、硅 6、铝 7、钙 8、镁 9、碳和硫 10、磷 11、锰 12、钛 13、钾和钠 14、铝、钙、镁、锰、磷、硅、钛化验、费用100元起

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化学元素分析负责人 叶工 18312001181 化验部：0755- 29362759 ◇ 铜精矿 ◇ 钨及钨精矿 ◇ 铅精矿 ◇ 锡精矿 ◇ 锌精矿 ◇ 铁矿石 X射线荧光分析服务项目 序号 样品类别 检测项目内容 1 粉末样品 元素分析、表面分析、石油及相关产品、 镀层、薄膜、贵金属无损检测

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